III международная научная конференция «СТАНДАРТНЫЕ ОБРАЗЦЫ В ИЗМЕРЕНИЯХ И ТЕХНОЛОГИЯХ» — УНИИМ — филиал ФГУП «ВНИИМ им. Д.И.Менделеева»


III международная научная конференция «СТАНДАРТНЫЕ ОБРАЗЦЫ В ИЗМЕРЕНИЯХ И ТЕХНОЛОГИЯХ»

Дата публикации: 19.07.2018

11 — 14 сентября 2018 года в Екатеринбурге пройдет III Международная научная конференция «Стандартные образцы в измерениях и технологиях». Ее организатором выступает Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (Росстандарт) совместно с Научным методическим центром Государственной службы стандартных образцов  состава и свойств веществ и материалов — Уральским научно-исследовательским институтом метрологии (УНИИМ).

Конференция станет открытой площадкой для обмена научной информацией о фундаментальных и прикладных исследованиях в области стандартных образцов состава и свойств веществ и материалов. Организаторы рассчитывают сделать новый шаг в  популяризации стандартных образцов как технической и нормативно-методической  основы, необходимой для обеспечения единства и точности измерений.

Свое участие в конференции подтвердили ученые, преподаватели и аспиранты вузов, специалисты научно-исследовательских и метрологических институтов, региональных центров метрологии, предприятий и организаций промышленного сектора. Всего заявлено более  150  участников, представляющих 13 субъектов  Российской Федерации. Кроме того, на конференции ожидаются доклады и выступления представителей зарубежных национальных органов по метрологии и метрологических институтов, международных метрологических организаций и технических комитетов. В Екатеринбург приедут специалисты из Германии, США, ЮАР, Нидерландов, Израиля, Польши, Украины, Белоруссии, Казахстана.

С основными докладами в пленарной части конференции выступят:

Анжелика Бота (Angelique Botha) – научный сотрудник Национального метрологического института южной Африки (NMISA),  председатель Комитета по стандартным образцам  ISO/REMCO.

Адриан М.Х. ван дер Вен (Adriaan M.H. Van der Veen) –  старший  научный  сотрудник Голландского метрологического института (VSL), председатель Технического комитета по анализу газов ISO/TC 158, главный  редактор журнала  «Accreditation and quality assurance».

Илья Кусельман (Ilya Kuselman) – независимый  Консультант по метрологии, Израиль.

Вольфрам Бремзер (Wolfram Bremser) – эксперт немецкого Федерального института  по  исследованию и испытанию материалов  (ВАМ).

Йоханнес ван де Креке (Johannes van de Kreeke) — эксперт немецкого Федерального института  по  исследованию и испытанию материалов  (ВАМ).

Медведевских С.В. – директор ФГУП Уральского научно-исследовательского института  метрологии.

Окрепилов М.В. — заместитель директора по качеству и образовательной деятельности  ФГУП Всероссийского научно-исследовательского института метрологии им. Д. И. Менделеева.

Муравская Н.П. —   заместитель директора по качеству ФГУП Всероссийского научно-исследовательского института оптико-физических измерений.

Добровольский В.И. – начальник отделения физико-химических и электрических измерений ФГУП Всероссийского научно-исследовательского института физико-технических и радиотехнических измерений.

Васильева И.Е. –  главный  научный сотрудник ФГБУН Институт геохимии им. А.П. Виноградова. Сибирского отделения Российской академии наук.

Волкова Р.А. – начальник лаборатории молекулярно-биологических и генетических методов испытаний Испытательного центра экспертизы качества медицинских иммунобиологических препаратов (ИЦЭК МИБП)

Конференция послужит широкому обсуждению вопросов теории и практики создания, производства, распространения и применения стандартных образцов, а также вопросов метрологического обеспечения измерений в различных областях: биологических и многоэлементых стандартных образцов, фармацевтики, контроля качества и безопасности пищевых добавок  и  продуктов, экологического мониторинга, черной и цветной металлургии, атомной промышленности. Отдельным  блоком  на конференции будут рассмотрены вопросы межлабораторных сличительных испытаний и   международное  сотрудничество в  области стандартных образцов.